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Qualitative & Quantitative Analyzer

OES- RGA, HPLC+GC-MS Triple analyzer, IC, FTIR, XRD, UV/Vis Spectrometer

Home > Products > 정성정량분석기기 (OES- RGA, HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)

UV/Vis UV1601 UV/VIS - Split-beam Spectrophotometer Features: 다양한 분야의 요구 사항을 충족하는 넓은 파장 범위. Split-beam ratio monitoring system은 정확한 측정값을 제공하고 baseline 안

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UV/Vis VIS-723G - Spectrophotometer Features: 320-1100nm의 모든 파장 범위에서 single beam wavelength scanning. 스펙트럼 대역폭 (bandwidth) 선택을 위한 세 가지 옵

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XRD Desktop X-ray Diffractometer system 본 제품은 기능성의 소형화된 데스크탑 X-선 회절분석기로써, 전형적인 회절계의 강화된 첨단 기술을 이용해 생산 및 품질 관리를 위해 설계되었습니다. 금속 및 비금속 샘플의 정확한

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XRD XRD-3000 X-ray Diffraction Technical parameter Model No. XRD-3000 Rated power 3kW Tube voltage 10-60kV Tube current 5-80mA X-ra

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XRD XRD-2700 Series XRD Multi-functional X-ray Diffractometer XRD-2700 시리즈 X-선 회절 분석기는 재료 연구 및 산업 제품 분석을 위해 설계되었으며 종래의 분석 기술과 특수 목적 측정 기법을 결합한 완벽한 제품입니다. The perf

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ICP-MS ICP-MS300A Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (ICP-MS; 유도결합플라즈마-질량분석기) Introduction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP-MS) features microscale(10-6), trace

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ICP-AES ICP1000 Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometer (ICP-AES) Features Over 70 elements can be measured Fast analysis, more than 10 elements per minute Excellent

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ICP-OES ICP3000 Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectrometer (ICP-OES) Features Over 70 elements can be measured Stabilized Echelle optical system Excellent detection lim

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