Features:
- 다양한 분야의 요구 사항을 충족하는 넓은 파장 범위.
- Split-beam ratio monitoring system은 정확한 측정값을 제공하고 baseline 안정성을 향상시킵니다.
- 스펙트럼 대역폭 선택 (spectral bandwidth selection)을 위한 5nm, 4nm, 2nm 및 1nm의 4 가지 옵션을 제공하고, 약전의 요구 사항을 충족합니다.완전 자동화된 디자인. 간편한 측정을 현실화했습니다.
- 최적화된 광학, large scale 통합 회로 설계,
- 세계적으로 유명한 제조사의 광원 (light source) 및 detector는 모두 고성능의 신뢰성을 더합니다.
Rich measurement methods, wavelength scan, time scan, ...
- 다양한 측정 방법 - 파장 스캔 (wavelength scan), 시간 스캔 (time scan), 다중 파장 결정, 다차 미분 결정 (multi-order derivative determination), 이중 파장법 및 삼중 파장법 등은 다양한 측정 요구 사항을 충족합니다.
- Automatic 10mm 8-cell holder, 더 많은 선택을 위해 자동화된 5mm-50mm 4-position cell holder로 교체 가능.
- 프린터 포트를 통해 데이터가 출력됩니다.
- 정전을 대비해 파라미터와 데이터가 저장됩니다.
- 보다 정확하고 유연한 요구 사항을 위해 RS-232 인터페이스 (USB 포트)를 통해 PC 컨트롤과 측정이 수행됩니다.
Specification
- Wavelength Range: 190-1100nm
- Spectral Bandwidth: 2nm(5nm, 4nm, 1nm optional)
- Wavelength Accuracy: ±0.3nm
- Wavelength Reproducibility: 0.15nm
- Photometric System: Split-beam ratio monitoring; Auto scan; Dual detectors
- Photometric Accuracy: ±0.3%T(0-100%T); ±0.002A(0-0.5A); ±0.004A(0.5A-1A)
- Photometric Reproducibility: 0.2%T
- Working Mode: T, A, C, E
- Photometric Range: -0.3-3A
- Stray Light: ≤0.1%T(NaI, 220nm, NaNO2 340nm)
- Baseline Flatness: ±0.002A
- Stability: 0.001A/30min (at 500nm, after warming up)
- Noise: ±0.001A (at 500nm, after warming up)
- Display: 6 inches high light blue LCD
- Detector: Silicon photodiode
- Power: AC:220V/50Hz, 110V/60Hz, 180W
- Dimensions: 630×470 ×210mm
- Weight: 26kg
