메뉴 건너뛰기
모바일 메뉴버튼
Home
Products
Multi-axis Micro Texture Analyzer
ㄴ 고성능 미세점착력 측정기
ㄴ 다축 미세재료 물성분석기
ㄴ 고성능 마찰계수측정기
유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
정성정량분석기기 (OES- RGA, HPLC+GC-MS, IC, FTIR)
ㄴ OES 잔류가스분석기
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation System (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
만능재료시험기 (UTM) 및 물성분석기 (TXA)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analyzer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 개요
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
열분석기 (DEA, Wafer chuk, Auto TGA)
General Instruments
ㄴ 연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ 온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
ㄴ Titration
ㄴ pH Meter
ㄴ 원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
액세서리 및 소모품
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ Fluid Aeration
ㄴ 인라인 분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
ㄴ 진공 박막증착 타겟
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Product List
제품 및 서비스 문의
동영상 자료
분석기기론
Blog
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
인증 및 특허
조직도 (Organization)
Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
통합 검색
로그인
회원가입
로그인
회원가입
Home
Products
Multi-axis Micro Texture Analyzer
ㄴ 고성능 미세점착력 측정기
ㄴ 다축 미세재료 물성분석기
ㄴ 고성능 마찰계수측정기
유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
정성정량분석기기 (OES- RGA, HPLC+GC-MS, IC, FTIR)
ㄴ OES 잔류가스분석기
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation System (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
만능재료시험기 (UTM) 및 물성분석기 (TXA)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analyzer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 개요
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
열분석기 (DEA, Wafer chuk, Auto TGA)
General Instruments
ㄴ 연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ 온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
ㄴ Titration
ㄴ pH Meter
ㄴ 원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
액세서리 및 소모품
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ Fluid Aeration
ㄴ 인라인 분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
ㄴ 진공 박막증착 타겟
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Product List
제품 및 서비스 문의
동영상 자료
분석기기론
Blog
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
인증 및 특허
조직도 (Organization)
Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
GNB 메뉴 닫기
Legacy Products
Home
>
단종품
정렬
검색
새로운 글작성
분류
분류
Legacy
최신순
정렬
추천순
최신순
최근 수정순
상세 검색
분류
분류
분류
Legacy
제목+내용
글쓴이
기간
선택
선택
1주
2주
1개월
3개월
6개월
1년
-
카테고리
제목
작성자
추천수
조회수
작성
Chemical Application
ARC, Accelerating Rate Calorimeter for Chemicals
file
YEONJIN
0
23827
2007-10-25
ARC, Accelerating Rate Calorimeter for Chemicals
file
YEONJIN
2007-10-25
23827
0
문의
하기
맨 위로