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디스플레이 소재 측정분석 및 미세가공 솔루션

Laser Micromachining Systems 디스플레이 재료 미세가공 시스템

Laser patterning of ITO on glass

ITO (Indium Tin Oxide)와 같은 TCO (Transparent Conductive Oxides)는 우수한 전기적, 광학적 특성으로 인해 얇은 전도성 필름으로 널리 사용됩니다. 수백 나노 미터에서 수백 미크론 이상의 적층된 레이어로 구성되기도 합니다. 예를 들어 OLED 스택, 세라믹의 금속 (metals on ceramics), FR4의 금속 (metals on FR4) 등을 손상시키지 않고 상단 레이어를 선택적으로 제거하는 경우 특히 특히 레이저가  유용합니다. 옥스포드 레이저스사의 초미세 가공기술을 이용하면, 이러한 모든 재료와 다른 많은 재료를 미크론 단위 (micron scale)로 드릴, 밀링, 절단 또는 패턴닝할 수 있습니다. 

A sample of the material we can machine include:
Transparent Conductive Oxides (ITO, ZnO, SnO) | Plus many more...

 

Sputtering System (진공증착장비)

미국 AJA사는 R&D 스케일의 physical vapor deposition (PVD)를 위한 마그네트론 스퍼터링 시스템 (magnetron sputtering system)을 제공합니다. 본 시스템은 con-focal 또는 normal incidence, off-axis, glancing angle, "target to substrate orientation"의 combination으로 구성할 수 있습니다.

 

Ion Milling System (이온 밀링 시스템)

기판 쿨링과 SIMS end point detection 기능으로 다양한 크기를 물리적으로 에칭하는 시스템입니다. 최대 22 cm 직경의 RF 이온소스와 DC 이온소스가 가능합니다. 대형 소스를 위한 편리한 슬라이드 레일 액세스.

AJA사의 ATC-IM 이온 밀링 시스템은 특정 요구 사항에 따라 다양한 구성으로 구축되는 다목적 툴입니다. 챔버는 원통형 또는 박스 스타일, HV 또는 UHV 일 수 있습니다. SIMS end point detection은 AJA의 고유 한 SIMS-IS isolation system과 함께 옵션 사항으로, 메인 챔버가 벤트될 때마다 SIMS head/detector를 진공 상태로 유지할 수 있습니다. 

 

Evaporation System (E-Beam 증착 및 열증착)

AJA International의 ATC-E (E-Beam Evaporation) 시스템과 ATC-T (Thermal Evaporation) 시스템은 R&D 규모의 박막 증착을 위해 설계된 고도로 진화된 HV, UHV 코팅 장비입니다. 본 시스템은 로드 락 (load-lock), 이온 밀링 / 이온 보조 소스, 가열 / 냉각 기판 홀더, QCM 증착 제어 / 컴퓨터 컨트롤, AJA의 고유한 수냉식 300 Amp 열 증착 소스를 특징으로 합니다.

 

Multi-Technique & Hybrid System (멀티 시스템)

ATC-M 시리즈 Multi-Technique System은 싱글 챔버 (하이브리드 시스템) 또는 멀티 챔버 (멀티 챔버 시스템)에서 다양한 박막 증착 (thin film deposition)과 이온 밀링 (ion milling), 분석 작업을 결합하여 진공상태를 유지하면서 기재 또는 기판 (substrate)의 in-situ 이송을 허용하는 "공정과 공정을 잇는 다목적 장비"입니다. 본 시스템은 HV 또는 UHV로 구성되며, 원통형 또는 박스형, 가공 챔버 스타일로 구축할 수 있습니다.

Magnetron Sputtering, E-Beam Evaporation, Thermal Evaporation, Ion Milling, Ion Beam Deposition, Pulsed Laser Deposition (PVD), Ellipsometry, Rapid Thermal Anneal, Oxygenation and Nitridization, XPS/AUGER/LEED Analysis, MBE, RHEED, MOS, SIMS, RIBE

  • Multi-Chamber Systems - with deposition, milling, evaporation, annealing, PLD, load-lock and analysis in connected chambers.
  • Hybrid Systems - load-locked single chambers with some combination of deposition, milling, evaporation, annealing, PLD and analysis.

 

점착력측정기, Probe tack, 박리강도, Peel-off strength

  • 최소 0.1mN의 측정하중과 분해능으로써, 디스플레이에 사용되는 투명 필름의 미세 점착력을 정밀하게 측정분석하는 기기입니다.

광학필름의 유전율측정기 (Permittivity, Loss Factor, Tangent Delta)