메뉴 건너뛰기
모바일 메뉴버튼
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analzyer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
통합 검색
로그인
회원가입
로그인
회원가입
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analzyer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
GNB 메뉴 닫기
Application
Home
>
Service
>
Application
재료물성분석기
크리프 시험 (Creep test) - 고정 하중에서 변위(deformation)의 증가 측정
관리자
2011-11-07 16:57:01
1301
크리프 시험 (Creep test) - 고정 하중에서 변위(deformation)의 증가 측정
정렬
검색
새로운 글작성
분류
분류
진공 박막증착 및 코팅
Laser Micro-machining
입자형상분석기
크로마토그래피
유전율측정기
점착력측정기
등온열량계
미소수화열측정기
바이오열량계
반응열량계
가속속도열량계
점도계
재료물성분석기
열전도도측정기
플라스틱 정성분석기
만능재료시험기
잔류응력분석기
온도압력측정기
왁스 물성분석기
시차주사열량계
의생명학적 시험분석서비스
MBE
최근 수정순
정렬
추천순
최신순
최근 수정순
공지 제외
상세 검색
분류
분류
분류
진공 박막증착 및 코팅
Laser Micro-machining
입자형상분석기
크로마토그래피
유전율측정기
점착력측정기
등온열량계
미소수화열측정기
바이오열량계
반응열량계
가속속도열량계
점도계
재료물성분석기
열전도도측정기
플라스틱 정성분석기
만능재료시험기
잔류응력분석기
온도압력측정기
왁스 물성분석기
시차주사열량계
의생명학적 시험분석서비스
MBE
제목+내용
글쓴이
기간
선택
선택
1주
2주
1개월
3개월
6개월
1년
-
재료물성분석기
점탄성 특성 분석 (Visco-elestic properties)
관리자
Texture Analysis
연질 시료의 인장강도 시험 (Tension)
관리자
재료물성분석기
Brittle한 시료의 압축강도 시험 (Compression)
관리자
재료물성분석기
크리프 시험 (Creep test) - 고정 하중에서 변위(deformation)의 증가 측정
관리자
재료물성분석기
응력완화 거동 시험 (Stress relaxation) : 고정 변위에서 하중(load) 또는 응력의 감소 측정
관리자
재료물성분석기
3-point bending 굴곡강도 시험
관리자
잔류응력분석기
X-선 회절 시스템을 이용한 잔류응력 (Residual Stress) 및 잔류 오스테나이트 (Retained Austenite) on-site 측정 (Field Measurement Services)
YEONJIN
잔류응력분석기
X-선 회절 시스템을 이용한 잔류응력 (Residual Stress) 및 잔류 오스테나이트 (Retained Austenite) 분석
YEONJIN
시차주사열량계
DSC, 약물(phamarceuticals)의 polymorphism 측정 분석
관리자
점도계
Viscosity Measurement of Contaminated Honing Oil
YEONJIN
잔류응력분석기
XRD에 의한 잔류 오스테나이트 분석 (Retained Austenite Analysis)
YEONJIN
잔류응력분석기
응력분석기로 사용되는 XRD에 의한 Residual Stress Analysis
YEONJIN
맨 위로
