메뉴 건너뛰기
모바일 메뉴버튼
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analzyer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
통합 검색
로그인
회원가입
로그인
회원가입
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analzyer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
GNB 메뉴 닫기
Announcement
Home
>
Customer Center
>
Blog
정렬
검색
새로운 글작성
분류
분류
Notice
Exhibition
Seminar
Workshop
Promotion
최신순
정렬
추천순
최신순
최근 수정순
상세 검색
분류
분류
분류
Notice
Exhibition
Seminar
Workshop
Promotion
제목+내용
글쓴이
기간
선택
선택
1주
2주
1개월
3개월
6개월
1년
-
Promotion
다축 미세 점착력 측정기 (Multi-axis Precise Adhesion Testing Equipment)
YEONJIN
2010-06-24 23:33:45
6390
Promotion
(주)연진코퍼레이션 판매/서비스 제품 안내
YEONJIN
2010-06-03 09:54:20
9744
Workshop
고분자/제약/식품 열분석워크샵 일정(2009. 12) 안내
YEONJIN
2009-09-17 14:12:38
7983
Workshop
열전도도/열확산율 측정기 사용 및 분석기술 워크샵
YEONJIN
2009-09-10 14:40:52
7814
Workshop
열경화성수지 열분석워크샵 2009/5/15 (금)
YEONJIN
2009-03-10 21:22:00
7664
Workshop
열분석워크샵 개최 안내, 2009. 2. 20 (금)
YEONJIN
2009-02-02 21:52:11
7490
Workshop
2009년도 WORKSHOP 일정안내
YEONJIN
2008-12-27 12:23:20
6502
Workshop
열분석 워크샵 2008년 12월 12일
YEONJIN
2008-11-20 10:39:01
6820
Notice
Display of Adiabatic calorimeter at NATAS
YEONJIN
2008-08-26 00:27:40
7109
Notice
International Thermal Conductivity Conference
YEONJIN
2008-06-18 07:50:35
8957
Workshop
열분석워크샵 일정안내
YEONJIN
2008-05-29 16:02:04
7420
Notice
Is Your Battery Safe ?
YEONJIN
2008-04-18 04:21:24
7185
맨 위로